Spätné nastavenie elektrónového mikroskopu TESCAN VEGA 3 XMU, v. č. 115-0086 vrátane testovania vákuového systému, vákuových mierok a testu natekania na štandardné meracie hodnoty po skončení projektu SEM mikroskopu pre účely práce s hydridmi (Mg, Ti atď.)
Spätné nastavenie inštrumentovaného Charpyho kladiva, vrátane kalibrácie britu, na meranie štandardných vzoriek po skončení projektu.